Russian Federation
Russian Federation
Russian Federation
In article assessment of chips on resistance to influence of special factors on the example of VLSI of the analog-to-digital converter is considered.
automation of design, chip, firmness.
Оценка соответствия микросхем требованиям по стойкости к воздействию специальных факторов проводили по методике, в которой контролировались параметры, указанные в табл. 1, на основе алгоритмов, изложенных в [1-4].
Испытания микросхем на стойкость проводили в нормальных условиях и при верхнем значении температуры корпуса микросхемы. Контроль температуры на корпусе микросхемы проводили термопарой хромель-капель с использованием микропроцессорного терморегулятора ТРМ101 фирмы «ОВЕН», Россия.
В процессе испытаний определяли уровень бессбойной работы, время потери работоспособности во время и непосредственно после воздействия фактора, уровень тиристорного эффекта (при его наличии), а также отсутствие катастрофических отказов.
1. Zol´nikov, K. V. Raschet izmeneniya skhemotekhnicheskikh parametrov pri vozdeystvii nizkointensivnogo izlucheniya faktorov kosmicheskogo prostranstva [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, V. P. Kryukov, A. S. Groshev, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2015. – T. 8. № 3. – S. 33-35.
2. Zol´nikov, K. V. Algoritmicheskaya osnova modelirovaniya otkazov na gluboko-submikronnykh tekhnologiyakh [Tekst] / K. V. Zol´nikov, A. I. Yan´kov, A. V. Achkasov, K. A. Chubur. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2015. – T. 8. № 1. – S. 15-17
3. Zol´nikov, K. V. Sovremennoe proektirovanie elektronnoy komponentnoy bazy [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. V. Lavlinskiy. Ekonomika. Innovatsii. Upravlenie kachestvom. – 2015. – № 1 (10). – S. 40-41.
4. Zol´nikov, K. V. Metod otsenki toka ionizatsii dlya ucheta impul´snogo izlucheniya v SAPR [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Sklyar, S. A. Evdokimova, T. V. Skvortsova. Ekonomika. Innovatsii. Upravlenie kachestvom. – 2015. – № 1 (10). – S. 42-45.
