In article the technique of the functional checkout of the unit of the modern system on a crystal is considered. The main stages of such check are considered. Practical examples of implementation for the two-nuclear system on a crystal containing the processor of signal processing and a set of peripheral devices are given.
the functional verification, system on a crystal, the microprocessor, the specification, the program.
I. Введение
Современные системы на кристалле (СнК) являются сверхбольшими интегральными схемами (СБИС), обычно содержащими несколько процессорных ядер (RISC-процессор, процессор цифровой обработки сигналов, различные аппаратные ускорители), многоуровневую память для хранения данных программ, кэш-память, шины, сопроцессор прямого доступа к памяти (ПДП), порты ввода вывода и набор системных периферийных устройств. Разработка подобных систем на кристалле является чрезвычайно сложной задачей. При этом наиболее трудоёмкой и важной задачей является функциональная верификация разрабатываемой СнК. По данным [1, 3] она занимает от 60 до 90 % времени разработки проекта в зависимости от сложности СнК и наличия необходимых СФ-блоков, а ошибки, пропущенные при функциональном контроле, могут приводить к многомиллионным убыткам [2]. В данной статье рассмотрим методику функциональной проверки одного из СФ-блоков СнК К1867ВЦ3АФ.
1. Nemudrov, V. Sistemy na kristalle. Proektirovanie i razvitie [Tekst] / V. Nemudrov, G.Martin. – M. : Tekhnosfera, 2004. – 216 s.
2. Potapov, I. P. Avtomatizatsiya proektirovaniya komplementarnykh mikroskhem s uchetom odinochnykh sobytiy [Tekst] : monografiya / I. P. Potapov, V. M. Antimirov, K. I. Tapero. – Voronezh : VGU, 2007. – 165 s.
3. Fortinskiy, Yu. K. Sozdanie podsistemy verifikatsii slozhnykh tsifrovykh mikroskhem s uchetom radiatsionnogo vozdeystviya [Tekst] : monografiya / Yu. K. Fortinskiy, V. K. Zol´nikov, M. V. Konarev. – Voronezh : VGU, 2011.- 207 s.
4. Mikroskhemy integral´nye 1867VTs3F. Tekhnicheskoe opisanie. KFDL.431282.002TO [Elektronnyy resurs]. – Rezhim dostupa: www.niiet.ru/product/product.htm. – Zagl. s ekrana.
5. Vasudervan, S. Effective Functional Verification Principles and Processes / S. Vasudervan - Published by Springer, P.O. Box 17, 3300 AA Dordrecht, The Netherlands. – 2006. – 268 p.
