Methods of ensuring the chip resistance to impact of heavy charged particles due to an excess of hardware, software and information resources.
CAD, radiation, chips, heavy charged particles
Одной из первых областей, на которой следует сосредоточиться внимание, прежде всего, является ячейки ОЗУ. Они наиболее критичны к одиночным сбоям, из-за относительно большой пощади и «тяжести отказа» - потери информации. Вначале проводится оценка площади ОЗУ без средств защиты ячеек, затем со «специальными» ячейками - т.е. с применением схемотехнических методов и, наконец, оценивается возрастание площади при резервирования ячеек, которые в общем случае могут быть как обычные, так и «специальные». После этого следует принять решение каким методом следует воспользоваться.
1. Steshenko V. i dr. Proektirovanie SBIS tipa "Sistema na kristalle". Marshrut proektirovaniya. Sintez skhemy.. Elektronnye komponenty. 2009. №1.
2. Yan´kov, A.I.. Sostoyanie i perspektivy razrabotki radiatsionno-stoykoy elementnoy bazy vo FGUP «NIIET» / A.I.Yan´kov, V.P.Kryukov, D.E. Chibisov. Nauchno-tekhnicheskiy zhurnal «Modelirovanie sistem i protsessov». Vypusk 1-2. – VGLTA: 2010. –S. 99-102.
3. Zol´nikov, V.K.. Formirovanie bibliotek tipovykh elementov i SF blokov / V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 3. S. 27-29.
4. Zol´nikov, V.K.. Razrabotka skhemotekhnicheskogo i konstruktivno-tekhnologicheskogo bazisa EKB / V.K.Zol´nikov, A.A. Stoyanov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2011. № 1-2. S. 28-30.
5. Yan´kov A.I. Metody obespecheniya sboeustoychivosti k odinochnym sobytiyam v protsesse proektirovaniya dlya mikroprotsessorov K1830BE32UM i 1830VE32U / A.I.Yan´kov, V.A. Smerek, V.P.Kryukov, V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 92-95.
6. Zol´nikov V.K. Proektirovanie sovremennoy mikrokomponentnoy bazy s uchetom odinochnykh sobytiy radiatsionnogo vozdeystviya / V.K. Zol´nikov. Modelirovanie sistem i protsessov. 2012. № 1. S. 27-30.
