Russian Federation
, Russian Federation
Voronezh, Russian Federation
Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov
The issues of creating modern microelectronics for special purposes and the conditions of its operation are considered. The trends in the development of space-purpose microcircuits and their influence on radiation resistance are determined. The paper presents the main physical phenomena that dominate among the radiation effects in recent years. Reducing the characteristic sizes of VLSI elements leads to the appearance of new physical effects, for which it is necessary to develop new models, or improve existing ones.
microcircuit, radiation exposure, microelectronics, VLSI, outer space
1. Avtomatizaciya upravleniya i proektirovaniya v elektronnoy promyshlennosti : monografiya / Yu.K. Fortinskiy, V.E. Mezhov, V.K. Zol'nikov, P.P. Kuc'ko. – Voronezh: VGU, 2008. – 275 s.
2. Anciferova, V.I. Analiz podgotovki specialistov po radioelektronike dlya nauchno-proizvodstvennyh i kommercheskih struktur v sovremennyh usloviyah / V.I. Anciferova, V.K. Zol'nikov // Modelirovanie sistem i processov. – 2009. – № 3-4. – S. 5-12.
3. Meerson, V.E. Modelirovanie potokov zaryazhennyh chastic kosmicheskogo prostranstva / V.E. Meerson, S.S. Venevitina, E.D. Bogacheva // Modelirovanie sistem i processov. – 2017. – T. 10, № 3. – S. 32-39.
4. Meerson, V.E. Modeli prohozhdeniya zaryazhennyh chastic kosmicheskogo prostranstva cherez zaschitu kosmicheskoy apparatury / V.E. Meerson, S.S. Venevitina, G.V. Kiselev // Modelirovanie sistem i processov. – 2017. – T. 10, № 3. – S. 40-48.
5. Arhitektura neyroprocessorov dlya sistem avtomaticheskogo upravleniya podvizhnymi ob'ektami / V. M. Antimirov, V. K. Zol'nikov, V. V. Lavlinskiy, V. P. Kryukov, A. Yu. Kulay, A. L. Savchenko // Modelirovanie sistem i processov. – 2017. – T. 10, № 4. – S. 4-10.
6. Analiz problem modelirovaniya elementov KMOP BIS / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, A. V. Fomichev, V. N. Chikin, A. V. Achkasov, V. F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. – 2018. – T. 11, № 4. – S. 20-25.
7. Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V. K. Zol'nikov, S. A. Evdokimova, A. V. Fomichev, V. N. Chikin, A. V. Achkasov, V. F. Zinchenko // Modelirovanie si-stem i processov. – 2018. – T. 11, № 4. – S. 25-30.
8. Yagodkin, A.S. Sovremennye SAPR dlya elektronnoy komponentnoy bazy kosmicheskogo naznacheniya / A.S. Yagodkin // Modelirovanie sistem i processov. – 2018. – T. 11, № 4. – S. 92-97.
9. Rezul'taty issledovaniy ul'trabystryh vypryamitel'nyh diodov pri vozdeystvii radiacii / V. K. Zol'nikov, A. I. Yan'kov, A. Yu. Kulay, A. L. Savchenko, A. S. Yagodkin, V. I. Anciferova, S. A. Evdokimova, T. V. Skvorcova, E. A. Maklakova, A. A. Ilunina, O. V. Kvasov // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 3. – S. 42-47.
10. Issledovanie lineynyh stabilizatorov napryazheniya na stoykost' k vozdeystviyu special'nyh faktorov / V. K. Zol'nikov, A. I. Yan'kov, K. A. Chubur, A. Yu. Kulay, V. P. Kryukov, I. I. Strukov, S. A. Grechanyy, S. A. Evdokimova, A. S. Yagodkin, V. I. Anciferova, O. V. Kvasov // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 3. – S. 48-53.
11. Kononov, V.S. Nakristal'noe rezervirovanie blokov ACP i CAP special'nogo naznacheniya / V.S. Kononov // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 3. – S. 53-58.
12. Sozdanie testovogo okruzheniya i poryadok zagruzki testov v processe proektirovaniya mikroshem / K. A. Chubur, A. Yu. Kulay, A. L. Savchenko, K. V. Zol'nikov, A. E. Gridnev // Modelirovanie sistem i processov. – 2020. – T. 13, № 1. – S. 83-87.
13. Razrabotka materialov i radiacionno-stoykoy EKB na osnove KNS/KNI struktur / I.I. Strukov, S.V. Grechanyy, A.S. Yagodkin, A.N. Chernikov // Modelirovanie sistem i processov. – 2020. – T. 13, № 2. – S. 72-76.
14. Osobennosti tehnologicheskogo processa izgotovleniya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya po tehnologii KMOP KNS / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, I.V. Zhuravleva, E.A. Maklakova, A.A. Ilunina // Modelirovanie sistem i processov. – 2020. – T. 13, № 3. – S. 53-58.
