Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
Рассмотрены особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Описаны конструкция и программное обеспечение разработанного тестера.

Ключевые слова:
ШИМ-контроллер, тестер, промышленные испытания, интегральные микросхемы, источники напряжения, измерители временных интервалов.
Текст
Текст произведения (PDF): Читать Скачать
Список литературы

1. Малышева, И.А. Технология производства интегральных микросхем / И.А. Малышева.– М.: Радио и связь, 1991.–240с.

Войти или Создать
* Забыли пароль?