Рассмотрены особенности промышленных испытаний микросхем ШИМ-контроллеров. Описаны конструкция и программное обеспечение разработанного тестера.
ШИМ-контроллер, тестер, промышленные испытания, интегральные микросхемы, источники напряжения, измерители временных интервалов.
1. Малышева, И.А. Технология производства интегральных микросхем / И.А. Малышева.– М.: Радио и связь, 1991.–240с.