Россия
В статье представлены результаты испытаний на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц (ТЗЧ) на моделирующей установке У-400М лаборатории ядерных реакций (ЛЯР) Объединенного института ядерных исследований (ОИЯИ) радиационно-стойкого микропроцессора 1874ВЕ10Т. Проведена оценка влияния воздействия фотонного излучения и тяжелых заряженных частиц на радиационно-стойкие микросхемы КМОП 1906ВМ024 и КМОП КНИ 1874ВЕ10Т технологий.
Радиационная стойкость, тяжелые заряженные частицы, микропроцессор 1874BE10T, установка У-400М, микросхемы.
1. Подход к тестированию сложно-функциональных микросхем примененный при испытаниях двухпроцессорной системы на кристалле на базе ядер 32-разрядных процессоров ЦОС / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский // Элементная база отечественной радиоэлектроники : труды I Российско-Белорусской конференции, посвященной 110-летию со дня рождения О.В. Лосева. – Нижний Новгород, 2013. – С. 96-99.
2. Зольников, В. К. Особенности выбора оптимального состава контролируемых параметров-критериев годности / В. К. Зольников, А. И. Яньков, В. П. Крюков // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость – 2016» : тезисы докладов 19 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : МИФИ, 2016. – С. 47-50.
3. Разработка технических средств контроля работоспособности ЭКБ специального назначения при экспериментальной оценки радиационной стойкости / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. С. Веневитина, А. И. Яньков // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем : материалы I Международной научно-практической конференции. – Тамбов, 2017. – С. 127-131.
4. Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 1. – С. 67-69.
5. РД 139-0139-2005 Нормативный документ по стандартизации РКТ. Методы оценки стойкости к воздействию заряженных частиц космического пространства по одиночным сбоям и отказам. – Москва : ЦКБС ФГУП «ЦНИИ машиностроения», 2005. – 74 с.
6. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). - 2012. - № 1.- С. 634-637.
7. Смерек, В. А. Разработка радиационно-стойкого микроконтроллера со встроенными специальными средствами / В.А. Смерек, А.А. Стоянов, К.В. Зольников // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 48-51.
8. Моделирование воздействия ТЗЧ в активных областях элементов микросхем при проектировании / К.В. Зольников, В.А. Смерек, А.В. Ачкасов, В.А. Скляр // Моделирование систем и процессов. - 2014. - № 1. - С. 15-17.
