В статье рассмотрены методы обеспечения сбоеустойчивости микросхем космического назначения к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся параметры микросхем, содержащих защиту от одиночных сбоев. Исследуется защита ПЗУ, ОЗУ, регистров и других элементов микросхем, а также потери площади кристалла при реализации методов защиты.
Автоматизация проектирования, радиация, сбои, структурная избыточность, временная избыточность, информационная избыточность.
1. Модель радиационных эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц в КМОП-элементах микросхем / В. К. Зольников, К. И. Таперо, В. А. Смерек, Т. П.Беляева // Программные продукты и системы. – №3(95). – 2011. – С. 17-22.
2. Смерек, В. А. Методы повышения производительности работы микроконтроллеров. Первый отечественный 16-разрядный микроконвертер / В. А. Смерек, В. К. Зольников, А. В. Ачкасов // Фундаментальные и прикладные проблемы техники и технологии. – 2012. – № 3. – С. 122-127.
3. Методы проектирования сбоеустойчивых 8-разрядных микроконтроллеров к воздействию ТЗЧ / А. И. Яньков, В. А. Смерек, В. П. Крюков, В. К. Зольников, Д. М. Уткин // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2012. – №4 – С.73-79.
4. Зольников, В. К. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / В. К. Зольников, В. А. Смерек, Т. П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект.: материалы Всероссийской научной школы. – Воронеж : ИПЦ «Научная книга», 2011. – С. 218 – 220.
5. Выбор значений параметров, определяющих кинетику накопления заряда в диэлектрике при радиационном воздействии / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. В. Ачкасов, В. А. Скляр // Моделирование систем и процессов. – 2015. – Т. 8, № 3. – С. 31-33.
6. Смерек, В. А. Реализация методов защиты от сбоев радиационного характера для восьми разрядного микроконтроллера / В. А. Смерек, В. К. Зольников, А. В. Ачкасов // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2011». : тезисы докладов 14 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : МИФИ, 2011. – С. 86-87.
7. Моделирование тока ионизации от воздействия тяжелых заряженных частиц при кластерных отказах структур микросхем / К.В. Зольников, А.И. Яньков, К.А. Чубур, А.С. Грошев, А.Л Савченко. // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость – 2016» : тезисы докладов 19 Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : МИФИ, 2016. – С. 111-112.
8. Смерек, В. А. Принципы защиты микросхем от одиночных сбоев в процессе проектирования [Текст] // В. А. Смерек, В. Н. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 3. – С. 60-63.
9. Смерек, В. А. Влияние одиночных сбоев на работу цифровых устройств / В. А. Смерек // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 4. – С. 68-71
10. Зольников, В. К. Результаты испытаний изделий к воздействию ТЗЧ / В.К. Зольников, В.А. Скляр // Моделирование систем и процессов. – 2016. – Т. 9, № 2. – С. 66-70.
11. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 3. – С. 17-20.
