СХЕМОТЕХНИЧЕСКИЙ БАЗИС И ПРОВЕРКА МИКРОСХЕМ НА РАБОТОСПОСОБНОСТЬ
Аннотация и ключевые слова
Аннотация (русский):
В статье рассматривается процесс проектирования интегральных микросхем. Исследуются вопросы моделирования радиационных эффектов импульсного, статического и космического пространства. Результаты моделирования позволяют выбрать схемотехнические, конструктивные и технологические решения для обеспечения высокой стойкости микросхем к ионизирующему излучению.

Ключевые слова:
Интегральные микросхемы, проектирование, САПР, схемотехнический базис, радиационная стойкость, моделирование.
Список литературы

1. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В. А. Скляр, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников // Радиотехника. – 2014. – № 6. – С. 94-98.

2. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К.В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. – 2015. – № 1 (10). – С. 40-41.

3. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В.П. Крюков, К.В. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 4. – С. 41-44.

4. Создание схемотехнического и конструктивно-технологического базиса микросхем специального назначения / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. Ю. Кулай, Ю. К. Фортинский, И. И. Струков, М. В. Солодилов / Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 1. – С. 27-29.

5. Алгоритмы конструкторского проектирования базовых элементов радиационно-стойких БИС / В. Е. Межов, П. Р. Машевич, Ю. К. Фортинский, В. К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2005. – № 1-2. – С. 125-126.

6. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2004. – № 1-2. – С. 57-60.

7. Зольников, К. В. Проектирование радиационно-стойкой компонентной базы / К. В. Зольников, А. А. Стоянов, В. С. Кононов // Элементная база отечественной радиоэлектроники : сборник трудов I Российско-Белорусской конференции, посвященной 110-летию со дня рождения О.В. Лосева. – Нижний Новгород, 2013. – С. 64-68.

8. Зольников, В. К. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В. К. Зольников, А. А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 1-2. – С. 28-30.

9. Зольников, В. К. Методика проектирования радиационно-стойких интегральных схем / В. К. Зольников, В. Н. Ачкасов, В. П. Крюков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2004. – № 1-2. – С. 57-60.

10. Разработка средств автоматизации проектирования специализированных микросхем для управляющих вычислительных комплексов двойного назначения : монография / В. Н. Ачкасов, В.М. Антимиров, В.Е. Межов, В.К. Зольников. – Воронеж, 2005. – 240 с.

11. Зольников, В. К. Проектирование микросхем с учетом радиационного воздействия / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. И. Яньков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2009. – № 2. – С. 28-30.

12. Чевычелов, Ю. А. Моделирование радиационных эффектов при проектировании элементной базы на схемотехническом уровне / Ю. А. Чевычелов // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. – 2012. – № 75. – С. 87-97.

13. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В. К. Зольников, В. А. Смерек, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 3. – С. 14-16.

14. Ачкасов, В. Н. Моделирование радиационных эффектов в САПР микроэлектроники / В. Н. Ачкасов // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. – 2012. – № 75. – С. 226-236.

15. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В.Н. Ачкасов, Ю.Г. Табаков // Лесотехнический журнал. – 2014. – Т. 4, № 4 (16). – С. 280-291.

16. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К. В. Зольников, В. А. Скляр, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. –2014. – № 2. – С. 5-9.

17. Условия эксплуатации нового поколения микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, М.В. Конарев, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. –2017. – Т. 10, № 1. – С. 23-26.

18. Зольников, К. В. Этапы проектирования радиационно-стойких микросхем / К. В. Зольников // Фундаментальные и прикладные исследования: проблемы и результаты. – 2013. – № 6. – С. 117-122.

19. Зольников, В.К. Проектирование микросхем с учетом радиационного воздействия / В. К. Зольников, В. П. Крюков, А. И. Яньков // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2009. – № 2. – С. 28-30.

20. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2012. – № 1. – С. 634-637.

Войти или Создать
* Забыли пароль?