Россия
Россия
В статье приводится анализ существующих подходов к верификации проектов и сравнение их характеристик. Рассматриваются методология верификации «систем на кристалле» (SoC), ее этапы и требования, предъявляемые к верификационным процедурам. Описаны подходы к созданию тестовых последовательностей, необходимых для проверки совпадения фактических выходных значений с ожидаемыми. Показана схема реализации самопроверяющейся тестовой последовательности.
Микросхема, проектирование, верификация, тестовая последовательность, системы на кристалле.
1. Скляр, В. А. Проектирование и испытания микросхем для систем сбора и обработки информации / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников // Радиотехника. – 2014. – № 6. – С. 94-98.
2. Скляр, В.В. Совмещенная аппаратно-программная верификация микросхем / В.А. Скляр, К.В. Зольников, И.В. Нагорный // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 2. – С. 63-65.
3. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. –№ 2. – С. 5-9.
4. Основные методы и процедуры верификации сф-блоков / В.А. Скляр, В.П. Крюков, В.Н. Ачкасов, Ю.А. Чевычелов // Моделирование систем и процессов. – 2011. – № 4. – С. 58-61.
5. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2012. – № 3. – С. 5-8.
6. Условия эксплуатации нового поколения микросхем специального назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай, М.В. Конарев, И.И. Струков, М.В. Солодилов // Моделирование систем и процессов. – 2017. – Т. 10, № 1. – С. 23-26.
7. Зольников, К.В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К.В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. – 2015. – № 1 (10). – С. 40-41.
8. Развитие технологии и платформ проектирования при топологических нормах менее 90 нм / В.А. Скляр, К.В. Зольников, В.В. Лавлинский, К.И. Таперо, А.И. Озеров // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 4. – С. 72-76.
9. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2012. – № 1. – С. 634-637.
10. Кривов, А.С. Методическое и техническое обеспечение испытаний изделий электронной промышленности на стойкость к электростатическим разрядам и одиночным импульсам напряжения / А.С. Кривов, В.А. Тухас, А.И. Яньков // Петербургский журнал электроники. –2017. – № 2-3 (87-88). – С. 111-116.
11. Методы обеспечения сбоеустойчивости к одиночным событиям в процессе проектирования для микропроцессоров K1830BE32УМ и 1830ВЕ32У / А.И. Яньков, В.А. Смерек, В.П. Крюков, В.К. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 1. – С. 92-95.
