Россия
Россия
Россия
Воронежская область, Россия
Россия
Россия
В работе рассмотрены вопросы стойкости линейных стабилизаторов напряжения к воздействию специальных факторов. Описаны проводимые исследования, приведены электрические схемы при измерении выходного напряжения и тока микросхем. Также рассматриваются расчетные оценки стойкости линейных стабилизаторов напряжения к воздействию различных специальных факторов.
Стойкость, стабилизатор напряжения, радиоэлектроника, время потери работоспособности, интегральные микросхемы
1. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В.П. Крюков, К.В. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 4. – С. 41-44.
2. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. – С. 71-72.
3. Зольников, К. В. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения / К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2010. – № 3-4. – С. 20-27.
4. Модель радиационных эффектов воздействия тяжелых заряженных частиц в КМОП-элементах микросхем / К.В. Зольников, К.И. Таперо, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Программные продукты и системы. – 2011. – № 3. – С. 4.
5. Методы проектирования микросхем, стойких к одиночным событиям / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, К. В. Зольников // Моделирование систем и процессов. – 2012. – № 3. – С. 17-20.
6. Данилов, В. П. Исследование совместного действия импульсов напряжения и ионизации на стабилизатор напряжения / В. П. Данилов // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2010. – № 2. – С. 56-61.
7. Методы создания сбоеустойчивых микросхем / В.К. Зольников, А.Ю. Кулай, А.Л. Савченко, И.И. Струков, К.А. Чубур, Ю.А. Чевычелов, А.И. Яньков // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов. – Тамбов : ТГТУ, 2018. – С. 219-221.
8. Зольников, В. К. Моделирование работоспособности микросхем на различных иерархических уровнях описания в САПР / В.К. Зольников, А.Л. Савченко, А.Ю. Кулай // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 30-39.
9. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. – 2010. – № 1-2. – С. 41-48.
10. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 25-30.
11. Беляева, Т.П.Алгоритм управления рисками проектов планирования и реализации электронной компонентной базы / Т.П. Беляева, В.К. Зольников, О.Н. Черкасов // Гетеромагнитная микроэлектроника. – 2011. – № 11. – С. 116-124.
12. Зольников, В. К. Моделирование сбора заряда при воздействии тяжелых заряженных частиц в КМОП элементах микросхем / В. К. Зольников, И. П. Потапов, К.И. Таперо // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2010. – № 1. – С. 275-278.
13. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В. К. Зольников, В. В. Лавлинский, Ю. А. Чевычелов, Ю. С. Сербулов, В. И. Анциферова, В. Н. Ачкасов, Ю. Г. Табаков // Лесотехнический журнал. – 2014. – Т. 4, № 4 (16). – С. 280-291
