Россия
Россия
В статье рассматривается модель оценки надежности интегральных схем (ИС) в зависимости от температуры кристалла и окружающей среды. Проведено расчетно-экспериментальное прогнозирование надежности микросхем 1921ВК035, получены зависимости минимальной наработки до отказа изделия от температуры кристалла ИС 1921ВК035 и гамма-процентного срока сохраняемости ИС от температуры окружающей среды. Полученные значения данных параметров микросхем соответствуют требованиям ОСТ В 11 0998-99.
Интегральные микросхемы, 1921ВК035, надежность, безотказность, гамма-процентный срок сохраняемости
1. РД 11 0755–90. Микросхемы интегральные. Методы ускоренных испытаний на безотказность и долговечность.
2. Глухов, А. В. Модели и алгоритмы проектирования микросхем преобразователей напряжения : дис. … канд. техн. наук: 05.13.12 / А. В. Глухов. – Новосибирск, 2013. – 186 с.
3. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов научной конференции. – Тамбов: ТГТУ, 2018. – С. 229-232.
4. Ачкасов, В. Н. Обобщенный критерий надежности интегральных схем и методы защиты от одиночных сбоев в цифровых устройствах на стадии проектирования / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин // Политематический сетевой электронный научный журнал Кубанского государственного аграрного университета. - 2012. - № 76. - С. 387-398.
5. Яньков, А. И. Методы испытаний современных СБИС / А. И. Яньков, В. К. Зольников, В. Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69.
6. Москалев, В. Ю. Конструктивно-технологические методы повышения радиационной стойкости биполярных и КМОП-интегральных схем : дис. … канд. техн. наук: 05.27.01 / В. Ю. Москалев. – Воронеж, 2007. – 115 с.
7. Тимошенков, С. П. Основы теории надежности : учебник и практикум / С. П. Тимошенков, Б. М. Симонов, В. Н. Горошко. – М. : Юрайт, 2018. – 444 с.
8. ОСТ 11 0998-99. Микросхемы интегральные. Общие технические условия. – М., 2000. – 139 с.
9. Определение вероятности безотказной работы при структурной оптимизации элементов сложных функциональных блоков в САПР / В. А. Смерек, К. В. Зольников, А. И. Яньков, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский, А. В. Ачкасов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 3. - С. 35-37.
10. Машевич, П. Р. Инструментальные средства автоматизации проектирования изделий микроэлектроники дизайн-центра / П. Р. Машевич, В. К. Зольников, К. И. Таперо. – Воронеж : ВГУ, 2006. – 179 с.
11. Методы создания сбоеустойчивых микросхем / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, А. Л. Савченко, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, А. И. Яньков // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник трудов конференции. – Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 219-221.
