Россия
Воронежский государственный технический университет
, Россия
Россия
Статья посвящена процессу создания цифровых микроэлектронных устройств, удовлетворяющих определенным параметрам, в том числе требованиям по стойкости к воздействию специальных факторов. Описана технологическая среда проектирования изделия 1867ВЦ6Ф и маршрут проектирования. Созданная технология проектирования обеспечила разработку радиационно-стойкой микросхемы. Проведена оценка производственной технологичности изделия и уровня стандартизации и унификации.
СБИС 1867ВЦ6Ф, специальные факторы, технологичность производства, проектирование, маршрут проектирования, микроэлектроника, специальные факторы
1. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. – № 2. – С. 5-9.
2. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. – 2018. –Т. 11, № 4. – С. 25-30.
3. Результаты исследования сбоеустойчевого процессора серии 1867 / А.И. Яньков, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, М.В. Конарев, Н.А. Орликовский // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 4. – С. 72-74.
4. Расчет показателей стойкости работы цифровых микросхем в САПР / В.К. Зольников, В.В. Лавлинский, Ю.А. Чевычелов, Ю.С. Сербулов, В.И. Анциферова, В.Н. Ачкасов, Ю.Г. Табаков // Лесотехнический журнал. – 2014. – Т. 4, № 4 (16). – С. 291-301.
5. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В. К. Зольников, В. А. Смерек, В. И. Анциферова, С. А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 3. – С. 14-16.
6. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем / В. Н. Ачкасов, В. А. Смерек, Д. М. Уткин, В. К. Зольников // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). – 2012. – № 1. – С. 634-637.
7. Смерек, В. К. Модель физических процессов в элементах СБИС при воздействии тяжелых заряженных частиц / В. К. Смерек, В. К. Зольников, К. И. Таперо // Моделирование систем и процессов. – 2010. – № 1-2. – С. 41-48.
8. Крюков, В. П. Проблемы моделирования базовых элементов КМОП БИС двойного назначения в САПР / В.П. Крюков, К.В. Зольников, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 4. – С. 41-44.
