Россия
Россия
В статье рассматриваются два основных этапа процесса загрузки тестов в ходе проектирования микросхем: выполнение процедуры тестирования и копирования основной программы и ее запуск. Приводится подробное описание проводимых тестов. При описании процесса загрузки основной программы отдельное внимание уделено внештатным ситуациям, которые останавливают процесс загрузки.
Микросхемы, микроэлектроника, проектирование, тесты, загрузка тестов
1. Зольников, В. К. Верификация проектов и создание тестовых последовательностей для проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 10-16.
2. Зольников, В.К. Практические методики выполнения верификации проектирования микросхем / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 25-30.
3. Подход к тестированию сложно-функциональных микросхем примененный при испытаниях двухпроцессорной системы на кристалле на базе ядер 32-разрядных процессоров ЦОС / А. И. Яньков, А. В. Ачкасов, К. В. Зольников, М. В. Конарев, Н. А. Орликовский // Элементная база отечественной радиоэлектроники : труды I Российско-Белорусской конференции, посвященной 110-летию со дня рождения О.В. Лосева. - Нижний Новгород, 2013. - С. 96-99.
4. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 4. – С. 25-30.
5. Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 2. – С. 66-71.
6. Зольников, В. К. Методы верификации сложно-функциональных блоков в САПР для микросхем глубоко субмикронных проектных норм / В. К. Зольников, С. А. Евдокимова, Т. В. Скворцова // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 1. – С. 16-24.
7. Методы схемотехнического моделирования КМОП СБИС с учетом радиации / К.В. Зольников, В.А. Скляр, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2014. – № 2. – С. 5-9.
