Россия
Воронеж, Воронежская область, Россия
ГРНТИ 29.01 Общие вопросы физики
В статье рассмотрены алгоритмические методы обеспечения сбоеустойчивости электронной компонентной базы (ЭКБ). Описаны методы защиты, применяемые в регулярных и нерегулярных структурах. Раскрыта сущность алгоритмов кода Хэмминга, композиционного кода, кодов коррекции и обнаружения ошибок. Показаны достоинства и недостатки применения арифметического остаточного кода, метода резервирования на уровне фрагментов программного кода.
Электронная компонентная база (ЭКБ), стойкость, методы резервирования, одиночные события, системотехника, регулярные и нерегулярные структуры
1. Соболев, С.А. Методы обеспечения сбое- и отказоустойчивости аппаратуры космического назначения / С.А. Соболев // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2012. – № 2. – С. 17-21.
2. Смерек, В.А. Архитектура, структура и методы защиты от сбоев радиационного характера для восьмиразрядного микроконтроллера / В.А. Смерек, В.К. Зольников, А.В. Ачкасов // Фундаментальные и прикладные проблемы техники и технологии. – 2012. – № 2 (292). – С. 136-141.
3. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. – 2012. – № 3. – С. 5-8.
4. Анашин, В.С. Особенности процесса контроля стойкости ЭКБ космических применений к воздействию ионизирующих излучений космического пространства / В.С. Анашин, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков // Микроэлектроника-2015. Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение : сборник докладов Международной конференции. – 2016. – С. 117-119.
5. Research of noncontact laser-based approach for dut heating during single-event effect tests with heavy ion exposure / E.V. Mitin, E.N. Nekrasova, V.S. Anashin, A.E. Koziukov // IEEE Radiation Effects Data Workshop. REDW 2017. – 2017. – Pp. 8115437.
6. Mukherjee, S. Architecture Design for Soft Errors / S. Mukherjee. – Elsevier, 2008. – 337 p.
7. Моделирование ионизационных эффектов и эффектов смещения в цифровых микросхемах для САПР / В.К. Зольников, В.В. Лавлинский, Ю.А. Чевычелов [и др.] // Лесотехнический журнал. – 2014. – Т. 4, № 4 (16). – С. 280-291.
8. Compact modeling of soft error rate in space environment / V.S. Anashin, A.E. Koziukov, M.E. Gorchichko, K.S. Zemtsov, A.M. Galimov, G.I. Zebrev // Proceedings of the European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems, RADECS, RADECS 2016. – 2017. – Pp. 1-5.
9. Блейхут, Р. Теория и практика кодов, контролирующих ошибки / Р. Блейхут. – М. : Мир, 1986. – 576 с.
10. Hsiao, M.Y. AClass of optimal minimum odd-weight-column SECDED codes / M.Y. Hsiao // IBM Journal of Research and Development. – 1970. – Vol. 14, № 4. – Pp. 395-401.
11. Обеспечение сбоеустойчивости 8-разрядных микроконтроллеров к одиночным событиям / А.И. Яньков, В.А. Смерек, В.П. Крюков, В.К. Зольников // Петербургский журнал электроники. – 2012. – № 1 (70). – С. 51-56.
12. Ando, H. A 1.3 GHz fifth generation SPARC64 microprocessor / H. Ando [et al.] // International Solid-State Circuit Conference – 2003. – Pp. 1896-1905.
