Россия
В бортовой аппаратуре широко применяются комплектующие изделия электронной техники, обладающие повышенной чувствительностью к воздействию ионизирующего излучения. Особую опасность представляют переходные процессы в изделиях электронной техники, связанные с поглощенной дозой излучения, приводящими к функциональным или не-обратимым отказам в работе бортовых систем.
ионизирующее излучение, параметрические отказы, поглощенная доза, воздействие, энергетическая зависимость потерь, смещение атомов, деградация, эквивалентные изменения
1. Зольников, В.К. Задачи автоматизации проектирования современной радиационно-стойкой элементной базы / В.К. Зольников, А.В. Ачкасов // Труды всероссийской конференции «Интеллектуальные информационные системы». – Воронеж, 2005. - С. 61-62.
2. Немудров, В. / Системы на кристалле. Проектирование и развитие / В. Немудров, Г. Мартин. – Москва: ЗАО РИЦ «Техносфера», 2004. – 216 с. – ISBN 5-94836-029-6.
3. Поверхностные радиационные эффекты в интегральных схемах / А.В. Согоян, Г.И. Зебрев, А.Ю. Никифоров, B.C. Першенков, А.И. Чумаков // Модель космоса: в 2 т. Т. 1: Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов / под ред. Л.И. Панасюка и Л.С. Новикова. – М.: КДУ, 2007. – С. 466-493.
4. Методология обеспечения стойкости бортовой аппаратуры космических аппаратов к воздействию ионизирующего излучения космического пространства : монография / Н.В. Кузнецов [и др.]. – М.: НИЯУ МИФИ, 2017. – 380 с. – ISBN 978-5-7262-2379-7
5. Особенности технологического процесса изготовления микросхем космического назначения по технологии КМОП КНС / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, И.В. Журавлева, Е.А. Маклакова, А.А. Илунина // Моделирование систем и процессов. – 2020. – Т. 13, № 3. – С. 53-58.
6. Журавлева, И.В. Основные факторы ионизирующих излучений космического пространства, действующие на микросхемы / И.В. Журавлева // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 3. – С. 11-16.
