REVIEW OF SUBMICRON VLSI CAD SOFTWARE AND ACCOUNTING FOR ELECTROPHYSICAL EFFECTS OF DEEP SUBMICRON LEVEL
Abstract and keywords
Abstract (English):
V stat'e rassmatrivayutsya harakteristiki i funkcii sovremennyh sistem avtomatizirovannogo proektirovaniya submikronnyh SBIS. Osnovnymi firmami-razrabotchikami sistem dannogo klassa yavlyayutsya Cadence Design Systems, Mentor Graphics i Synopsys. Proanalizirovany elektrofizicheskie effekty submikronnogo urovnya, kotorye neobhodimo uchityvat' pri razrabotke SBIS.

Keywords:
Sistemy avtomatizirovannogo proektirovaniya (SAPR), SBIS, Cadence Design Systems, Mentor Graphics, Synopsys, elektrofizicheskie effekty, gluboko submikronnyy uroven'.
References

1. Obzor programm dlya SAPR submikronnyh SBIS / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, V.V. Lavlinskiy, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Modelirovanie sistem i processov. – 2013. – № 2. – S. 72-76.

2. Obzor sredstv SAPR dlya submikronnyh SBIS / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy, V.V. Lavlinskiy // Modelirovanie sistem i processov. – 2012. – № 1. – S. 60-64.

3. Lisyak, V. V. Programmnye produkty SAPR ustroystv s programmiruemoy logikoy / V. V. Lisyak, N. K. Lisyak // Izvestiya YuFU. Tehnicheskie nauki. – 2014. – № 7 (156). – S. 93-101.

4. EDA Tools and IP for System Design Enablement | Cadence. – Rezhim dostupa: https://www.cadence.com/. – Zagl. s ekrana.

5. Mentor, a Siemens Business, leads in electronic design automation software – Mentor Graphics. – Rezhim dostupa: https://www.mentor.com/. – Zagl. s ekrana.

6. Synopsys. – Rezhim dostupa: https://www.synopsys.com/. – Zagl. s ekrana.

7. Sklyar, V. A. Uchet elektrofizicheskih effektov submikronnogo urovnya pri proektirovanii sovremennyh SBIS / V.A. Sklyar, K.V. Zol'nikov, I.V. Nagornyy // Modelirovanie sistem i processov. – 2012. – № 3. – S. 42-44.

8. Issledovanie vliyaniya razbrosa tehnologicheskih parametrov SBIS na stoykost' k effektam nakoplennoy dozy radiacii s pomosch'yu sredstv priborno-tehnologicheskogo modelirovaniya / A.V. Seleckiy, N.A. Shelepin, A.A. Smolin, A.V. Ulanova // Problemy razrabotki perspektivnyh mikro- i nanoelektronnyh sistem (MES). – 2016. – № 4. – S. 178-183.

9. Gavrilov, S. V. Metody uskorennoy harakterizacii bibliotek elementov SBIS s kontrolem zadannoy tochnosti / S. V. Gavrilov, O. N. Gudkova, Yu. B. Egorov // Izvestiya vysshih uchebnyh zavedeniy. Elektronika. – 2010. – № 3 (83). – S. 51-60.

10. Harakterizaciya i modelirovanie signalov v SAPR / V. A. Sklyar, V. K. Zol'nikov, A. I. Yan'kov, Yu. A. Chevychelov, V. F. Barabanov // Modelirovanie sistem i processov. – 2018. – T. 11, № 1. – S. 62-67.

Login or Create
* Forgot password?