Russian Federation
Russian Federation
Russian Federation
Russian Federation
An algorithm for evaluation of resistance to single chip events. Calculate the spatial and temporal distribution of the effect of the particles on the chip. The result is a map of VLSI failure as a temporary sequence
Design, chip, radiation
В работе предложен алгоритм оценки стойкости изделий к одиночным событиям [1, 2]. Данный алгоритм (рис. 1) направлен на выявление карты отказов, которые вызывают в СБИС воздействие потоков тяжелых заряженных частиц.
Вначале задается поток частиц и линейные потери энергии, которые соответствуют данным частицам. Затем микросхемы разбивается на участки с шагом, который соответствует половине проектной нормы.
На следующем этапе проектировщик определяет кластерные участки, которые будут соответствовать отказам изделий. Такой выбор проводится из опыта схемотехнических работ. При этом выбор определяется топологией элементов в виде карты соответствия отказов. Проектировщик рассматривает топологическую карту всего изделия и накладывает на нее точки попадания частиц. Результатом такой работы является определение кластеров отказов – фактически устанавливается набор кластеров, состоящий из нескольких ячеек.
1. Zol´nikov, K. V. Opredelenie veroyatnosti bezotkaznoy raboty pri strukturnoy optimizatsii elementov slozhnykh funktsional´nykh blokov v SAPR [Tekst] / K. V. Zol´nikov, V. A. Smerek, A. I. Yan´kov, M. V. Konarev, N. A. Orlikovskiy, A. V. Achkasov. Modelirovanie sistem i protsessov. – 2013. – № 3. – S. 35-37.
2. Smerek, V. A. Mikrokontroller 1830VE32U - 8-razryadnaya arkhitektura MSC-51 v radiatsionno-stoykom ispolnenii [Tekst] / V. A. Smerek, A. I. Yan´kov, A. V. Kryukov. Vserossiyskaya nauchno-tekhnicheskaya konferentsiya "Problemy razrabotki perspektivnykh mikro- i nanoelektronnykh sistem (MES)" : sbornik trudov. – 2010. – № 1. – S.279-282.
