Россия
Россия
Россия
ГРНТИ 29.01 Общие вопросы физики
В работе рассмотрены требования к испытательным стендам для исследования появления одиночных радиационных эффектов в электронной компонентной базы (ЭКБ) при повышенной и пониженной температурах. Представлены примеры влияния температурного режима на уровни стойкости ЭКБ, а также влияние пассивного и активного режима работы радиоэлектронной аппаратуры на появление одиночных событий.
Электронная компонентная база (ЭКБ), испытания, одиночный радиационный эффект, космическое пространство (КП), ионизирующее излучение (ИИ), КМОП-технология.
1. Митин, Е.В. Проблемные вопросы испытаний ЭКБ на стойкость к одиночным радиационным эффектам / Е.В. Митин // Петербургский журнал электроники. – 2014. – № 4 (81). – С. 44-52.
2. Создание средств контроля работоспособности в процессе испытаний / В.К. Зольников, А.Ю. Кулай, И.И. Струков [и др.] // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях : сборник научных трудов. – Тамбов, 2018. – С. 226-228.
3. Отработка методики бесконтактного нагрева кристаллов ЭКБ при испытаниях на стойкость к одиноким радиационным дефектам / Е.В. Митин, Е.Н. Некрасова, В.С. Анашин, А.Е. Козюков // Петербургский журнал электроники. – 2017. – № 2-3 (87-88). – С. 117-122.
4. Kuboyama, S. A Bias Voltage Dependence of Trapped Hole Annealing and Its Measurement Technique / S. Kuboyama, T. Goka, T. Tamura // IEEE Trans. Nucl. Sci. NS-38. – 1991. – Pp. 1140.
5. Challenges and approaches to radiation hardness control of electronic components to in-space high-energy particles exposure / V. Anashin, P. Chubunov, A. Koziukov, A Konyukhov., G. Protopopov // Proceedings - 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics, ISHCE 2018. – Tomsk, 2018. – С. 31-34. – DOI: 10.1109/ISHCE.2018.8521206
6. Моделирование работы микросхемы для мехатронного устройства в космической среде / К.В. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай [и др.] // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем : материалы 1-й научно-практической международной конференции. – Тамбов, 2017. – С. 370-376.
7. Fleetwood, D.M. New insights into radiation-induced oxide-trap charge through thermally-stimulated current (TSC) measurement and analysis / D.M. Fleetwood, S.L. Miller, R.A. Reber [et. al.] // IEEE Trans. Nucl. Sci. NS-39. – 1992. – Pp. 2192.
