Россия
Без создания российской технологии проектирования СнК невозможно обеспечить современный уровень разработки СБИС, как для оборонных, так и для гражданских применений. Это соответствует мировым тенденциям развития. Тем не менее, необходимо выделить только те существенные процессы, которые в наибольшей степени соответствуют российским реалиям и могут помочь в решении конкретных проблем оборонной отрасли и экономики в целом с наименьшими затратами и в кратчайшие сроки. Важнейшим элементом внедрения технологии СнК является организация единого входа для размещения производства микросхем на основе данной технологии. Это позволит резко снизить затраты, аттестовать систему сложно функциональных блоков, повысить надежность и устойчивость разработок. Даже в организационном плане это позволит включать организованную фирму (условно - Silicon Gate) в качестве сертифицированного изготовителя чипов в любых договорах с МО. В статье рассмотрено структурирование программ по разработке отечественной технологии систем на кристалле СнК, координация области СнК разработок и сложно-функциональных блоков, а также их информационное обеспечение.
Технология проектирования, микросхемы, программное обеспечение, координация, сложно-функциональные блоки, информационное обеспечение.
1. Semkin, N.D. Calculating the current in the measurement circuit of a high-velocity microparticle detector / N.D. Semkin, A.M. Telegin // Measurement techniques. – 2017. – Т. 59, № 12. – С. 1304-1309. – DOI: 10.1007/s11018-017-1133-3.
2. Беляева, Т.П. Управление предприятиями микроэлектроники: состояние и задачи развития / Т.П. Беляева, Д.И. Станчев // Информационные технологии моделирования и управления. - 2011. - № 3 (68). - С. 333-340.
3. Современные условия эксплуатации микросхем космического назначения / В.К. Зольников, В.П. Крюков, А.Ю. Кулай [и др.] // Информационные технологии в управлении и моделировании мехатронных систем. материалы 1-й научно-практической международной конференции. – Тамбов, 2017. – С. 119-126.
4. Алгоритмическая основа моделирования и обеспечения защиты типовых КМОП элементов в процессе проектирования / В.К Зольников, В.А. Смерек, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова // Моделирование систем и процессов. – 2013. – № 3. – С. 14-16. – DOI: 10.12737/2382.
5. Разработка проектной среды и оценка технологичности производства микросхемы с учетом стойкости к специальным факторам на примере СБИС 1867ВЦ6Ф / В.А. Скляр, В.А. Смерек, К.В. Зольников [и др.] // Моделирование систем и процессов. - 2020. - Т. 13, № 1. - С. 77-82. – DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-77-82.
6. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В.К. Зольников [и др.] // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник научных трудов. - Тамбов, 2018. - С. 229-232.
7. Комаров, А.С. Управление техническим уровнем высокоинтегрированных электронных систем (научно-технологические проблемы и аспекты развития) : монография / А.С. Комаров, Д.В. Крапухин, Е.И. Шульгин. – М. : Техносфера, 2014. - 240 с.
8. Анашин, В.С. Особенности процесса контроля стойкости ЭКБ космических применений к воздействию ионизирующих излучений космического пространства / В.С. Анашин, П.А. Чубунов, А.Е. Козюков // Микроэлектроника-2015. Интегральные схемы и микроэлектронные модули: проектирование, производство и применение: сборник докладов Международной конференции. - 2016. - С. 117-119.
9. Зольников, В.К. Методика проектирования современной микрокомпонентной базы с учетом одиночных событий радиационного воздействия / В.К. Зольников // Вопросы атомной науки и техники. Серия: Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. - 2012. - № 3. - С. 5-8.
10. Зольников, К. В. Современное проектирование электронной компонентной базы / К. В. Зольников, В.В. Лавлинский // Экономика. Инновации. Управление качеством. - 2015. - № 1 (10). - С. 40-41.
11. Зольников, К.В. Проектирование специальных СБИС и управление проектами их создания / К.В. Зольников, В.А. Смерек, Т.П. Беляева // Интеллектуальные технологии будущего. Естественный и искусственный интеллект: сборник материалов Всероссийской молодежной конференции. - Воронеж: Научная книга, 2011. - С. 218-220.
12. Черников, Б.В. Методы решения задачи о размещении элементов БИС / Б.В. Черников, А.В. Можжухина, Е.А. Черникова // Информатизация и связь. - 2020. - № 6. - С. 13-16.
13. Радиационно-стойкое проектирование высокопроизводительных нанометровых КМОП СБИС "система-на-кристалле" / Ю.М. Герасимов, Н.Г. Григорьев, А.В. Кобыляцкий [и др.] // Инфокоммуникационные и радиоэлектронные технологии. - 2019. - Т. 2, № 1. - С. 33-51. - DOI: 10.15826/icrt.2019.02.1.04.
14. Compact models for radiation hardening by design of SiGe BiCMOS, Gaas and SOI CMOS microwave circuits / D.I. Sotskov, N.A. Usachev, V.V. Elesin [et al.] // SIBCON 2021 - International Siberian Conference on Control and Communications. - 2021. - С. 9438867. - DOI: 10.1109/SIBCON50419.2021.9438867.
15. Особенности испытаний и оценки радиационной стойкости комплексированных изделий ЭКБ / Д.В. Печенкина, Д.В. Бойченко, А.В. Согоян [и др.] // Наноиндустрия. - 2020. - Т. 13, № S4 (99). - С. 295-297. - DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.4s.295.297.
16. Согоян, А.В. Оценка соответствия интегральных схем требованиям по стойкости к воздействию тяжелых заряженных частиц / А.В. Согоян, А.А. Смолин, А.И. Чумаков // Безопасность информационных технологий. - 2020. - Т. 27, № 1. - С. 68-82. - DOI: 10.26583/bit.2020.1.06.
17. Козюков, А.Е. Декорпусирование электронной компонентной базы с обратной стороны для подготовки образцов к испытаниям на стойкость к воздействию тяжёлых заряженных частиц / А.Е. Козюков, А.О. Волков // Вестник НПО им. С.А. Лавочкина. - 2021. - № 3 (53). - С. 60-71. - DOI: 10.26162/LS.2021.53.3.008.
18. Анализ и обоснование требований по надежности к перспективным космическим аппаратам / В.Е. Патраев, С.П. Вовченко, Е.А. Шангина, Р.А. Матюшев // Авиакосмическое приборостроение. - 2020. - № 7. - С. 3-11. - DOI: 10.25791/aviakosmos.07.2020.1165.
19. Щепанов, А. Развитие российской электронной компонентной базы: взгляд эксперта / А. Щепанов // Электроника: Наука, технология, бизнес. - 2019. - № 7 (188). - С. 74-77. - DOI: 10.22184/1992-4178.2019.188.7.74.77.
20. Зольников, В.К. Разработка схемотехнического и конструктивно-технологического базиса ЭКБ / В.К. Зольников, А.А. Стоянов // Моделирование систем и процессов. - 2011. - № 1-2. - С. 28-30.
